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TH2836同惠高頻LCR數(shù)字電橋的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、4Hz-8.5MHz的頻率范圍。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

TH2838精密LCR數(shù)字電橋是采用的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。

TH2839系列同惠阻抗分析儀采用阻抗測(cè)量范圍較寬的自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，是電子元器件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)有力工具。

TH2839系列同惠阻抗分析儀采用阻抗測(cè)量范圍較寬的自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，是電子元器件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)有力工具。

TH2840系列精密LCR數(shù)字電橋是常州同惠電子采用了新一代技術(shù) 研制成功的新一代LCR數(shù)字電橋，創(chuàng)新性的采用了雙CPU架構(gòu)、 Linux底層系統(tǒng)、10.1寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使 用說(shuō)明及幫助等新一代技術(shù)，解決了以往LCR測(cè)試速度慢、顯示單 一、操作繁瑣等缺陷。

精密LCR數(shù)字電橋 10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Linux系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN接口，帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷 性。

1精密阻抗分析儀 快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

精密阻抗分析儀快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

阻抗分析儀 快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

阻抗分析儀 快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍