DB250掃描系統(tǒng)|danbridge DB250|40通道測試系統(tǒng)的產(chǎn)品介紹




DB250掃描系統(tǒng)|danbridge DB250|40通道測試系統(tǒng)的描述

DB250掃描系統(tǒng)設計用于方便，快速的電容器質(zhì)量控制
當今DB250系統(tǒng)為大多數(shù)薄膜電容器制造商所使用
DB250系統(tǒng)設計用于連接徑向和軸向元件
DB250系統(tǒng)具有非常靈活的夾具，定制設計的夾具，成本也不至于太高

DB250的典型應用
用于金屬電容器質(zhì)量控制
（品管）部門的半自動測試
減少電容器樣品測試的工時
測試小批量電容
用于開發(fā)部門的電容檢測
大型實驗室的電容測量

使用danbridge掃描測試裝置的好處
精度高測量速度快
易于操作
裝件簡單
自動報告生成
測試數(shù)據(jù)可輕松導出
高效的雙掃描模式
設定保存便捷
可進行測量數(shù)據(jù)采集
靈活的夾具

給用戶帶來好處
從一個類型的電容改變到另一個只需要幾分鐘的時間，因為測試設定可以保存和重復使用
當系統(tǒng)收集測量結果時，不會產(chǎn)生由操作者不當操作帶來的錯誤
當開關門因故障需要打開時，掃描系統(tǒng)將測試元件自動放電，可使操作人員免受高壓傷害


 

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