產(chǎn)品分類
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簡要描述:DB236電容測試儀|danbridgeDB236|danbridge電容測試儀用于長測試電纜的外部電橋模塊100K—10K—1K—100(120)Hz測試頻率電容模式下測試C, D, ESR & Z @ 100 (120) Hz/100KHz,測量時間小于120msC精度高達(dá)0.05%及0.005的D值可分類輸出*,第二頻點的結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)的IEEE,GPIB和RS232的接
DB236電容測試儀|danbridge DB236|danbridge電容測試儀的產(chǎn)品介紹
DB236電容測試儀|danbridge DB236|danbridge電容測試儀的功能簡介
用于長測試電纜的外部電橋模塊
100K—10K—1K—100(120)Hz測試頻率
電容模式下測試C, D, ESR & Z @ 100 (120) Hz/100KHz,測量時間小于120ms
C精度高達(dá)0.05%及0.005的D值
可分類輸出*,第二頻點的結(jié)果
標(biāo)準(zhǔn)的IEEE,GPIB和RS232的接口
DB236電容測試儀|danbridge DB236|danbridge電容測試儀的典型應(yīng)用
用于生產(chǎn)線的電容和電解電容的自動測試
大電容的質(zhì)量控制
高達(dá) mF的電容測試
在1KHz下檢測C, ESR, D值同時在高達(dá)100KHz下測試阻抗值
現(xiàn)有分選機上的現(xiàn)代設(shè)備
Danbridge可以提供一些工程技術(shù)用于集成我們的儀器現(xiàn)有機器上
雙頻測試
標(biāo)準(zhǔn)雙頻分類輸出
強大的兆歐表也可以集成
所有的儀器都可以通過IEEE/R232控制
典型應(yīng)用是用于開關(guān)電源的電容生產(chǎn)測試
典型設(shè)置:雙頻模式下的自動IR和C/D值測試
Ir或漏電流的自動測試,多達(dá)5個分選
測試頻率(100Khz,10Khz,1Khz)
典型雙頻帶分選測試1KHz時C/D、10KHz時D
通常應(yīng)用與兩個頻率下的電容分選設(shè)備(C & D @ 1KHz, D @ 10KHz)
儀器可通過IEEE(GPIB)設(shè)置或人工通過鍵盤鍵入
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