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精密阻抗分析儀快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
更新時(shí)間:2024-06-26阻抗分析儀 快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
更新時(shí)間:2024-06-26阻抗分析儀 快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍
更新時(shí)間:2024-06-26阻抗分析儀 快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)40MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
更新時(shí)間:2024-06-26TH2638系列高速精密電容測(cè)量?jī)x是具有高達(dá)1MHz測(cè)試頻率的新型電容測(cè)量?jī)x,體積小,緊湊便攜,便于上架使用。4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面,操作方便快捷。
更新時(shí)間:2024-06-26TH2638系列高速精密電容測(cè)量?jī)x是具有高達(dá)1MHz測(cè)試頻率的新型電容測(cè)量?jī)x,體積小,緊湊便攜,便于上架使用。4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面,操作方便快捷。
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更新時(shí)間:2024-06-26TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢(shì),針對(duì)半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計(jì)的分析儀器。
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更新時(shí)間:2024-06-26CONTACT
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